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名称 機関 メーカー 共用範囲
L-trace
走査型プローブ顕微鏡 [L-trace]
物質・材料研究機構
日立ハイテクサイエンス
学内学外とも共用
Nanoscope5
走査型プローブ顕微鏡 [Nanoscope5]
物質・材料研究機構
ブルカージャパン
学内学外とも共用
Helios 650
FIB/SEM精密微細加工装置
物質・材料研究機構
日本エフイー・アイ株式会社
学内学外とも共用
NX5000
TEM試料自動作製FIB-SEM複合装置 (FIB-SEM combined apparatus for automatic preparation of TEM specimens)
物質・材料研究機構
日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
Model 1040 Nanomill
無損傷電子顕微鏡試料薄片化装置 (Damage-less TEM specimen milling apparatus)
物質・材料研究機構
フィッシオーネ (Fischione)
学内学外とも共用
695PIPS II 他
セラミックス試料作製装置群 (Ceramics sample preparation facilities)
物質・材料研究機構
ガタン 日立ハイテク 真空デバイス マルトー TECHNOORG-LINDA
学内学外とも共用
NB5000
デュアルビーム加工観察装置 (Dual Beam system)
物質・材料研究機構
日立ハイテクノロジーズ (Hitachi High-Technologies)
学内学外とも共用
JIB-4000
FIB加工装置群 (Focused Ion Beam systems)
物質・材料研究機構
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
JEM-9320FIB
FIB加工装置群 (Focused Ion Beam systems)
物質・材料研究機構
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
JEM-9310FIB
FIB加工装置群 (Focused Ion Beam systems)
物質・材料研究機構
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
ピックアップシステム (Pick-up System)
物質・材料研究機構
-
学内学外とも共用
Leica EM UC6
ウルトラミクロトーム (Ultramicrotome)
物質・材料研究機構
ライカマイクロシステムズ (Leica Microsystems)
学内学外とも共用
Dimple Grinder(Model 656) PIPS II 他
TEM試料作製装置群 (TEM sample preparation apparatus)
物質・材料研究機構
Gatan 日本電子 BEUHLER Allied 日本レーザー電子真空デバイス マルトー
学内学外とも共用
VK-9700
短波長レーザー顕微鏡[VK-9700] (Laser Microscope〔VK-9700〕)
産業技術総合研究所
キーエンス (KEYENCE)
学内学外とも共用
OLS-4100
短波長レーザー顕微鏡[OLS-4100] (Laser Microscope〔OLS-4100〕)
産業技術総合研究所
オリンパス (Olympus)
学内学外とも共用
S4800
電界放出形走査電子顕微鏡[S4800_FE-SEM] (Field Emission SEM〔S4800/FE-SEM, HITACHI〕)
産業技術総合研究所
日立ハイテクノロジーズ (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
S-3500N
低真空走査電子顕微鏡 (Low Vacuum SEM (HITACHI))
産業技術総合研究所
日立ハイテクノロジーズ (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
ERA-9200
3次元電界放出形走査電子顕微鏡(エリオニクス) (3 Dimensional Field Emission SEM)
産業技術総合研究所
エリオニクス (ELIONIX)
学内学外とも共用
NanoscopeⅣ/Dimension3100
走査プローブ顕微鏡SPM_1[NanoscopeⅣ/Dimension3100] (Scanning Probe Microscope 1 (SPM1, NanoscopeIV/Dimension 3100))
産業技術総合研究所
デジタルインスツルメンツ (Veeco/Digital Instruments )
学内学外とも共用
SPM-9700
走査プローブ顕微鏡SPM_2[SPM-9600/9700] (Scanning Probe Microscope 2〔SPM2, SPM-9600/9700〕)
産業技術総合研究所
島津製作所 (SHIMADZU)
学内学外とも共用
SFT_3500
ナノサーチ顕微鏡SPM_3[SFT-3500] (Scanning Probe Microscope 3〔SPM3, SFT-3500, Nano Search Microscope〕)
産業技術総合研究所
島津製作所 (SHIMADZU)
学内学外とも共用
N-6000SS
ナノプローバ[N-6000SS] (NanoProber〔N-6000SS〕)
産業技術総合研究所
日立ハイテクノロジーズ (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
(1) RSPM1:JSPM5400、(2) RSPM2:E-SWEEP/S-Image
リアル表面プローブ顕微鏡(RSPM) (Real Surface Probe Microscope (RSPM) )
産業技術総合研究所
(1) RSPM1: 日本電子、(2) RSPM2: SII(現・日立ハイテクサイエンス)
学内学外とも共用
IM4000
クロスセクションポリッシャー(ALD付帯) (Cross Section Polisher)
産業技術総合研究所
日立ハイテクノロジーズ (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
3-IBE
アルゴンミリング装置 (Argon Ion Milling System)
産業技術総合研究所
伯東 (Hakuto)
学内学外とも共用
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自然科学研究機構分子科学研究所 機器センター
〒444-8585 愛知県岡崎市明大寺町字西郷中38番地
電話番号:0564-55-7490
MAIL : eqnet-office@ims.ac.jp
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