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名称 機関 メーカー 共用範囲
Q-Exactive Plus
LC-MS (LC-MS)
物質・材料研究機構
サーモフィッシャーサイエンティフィック (Thermo Fisher Scientific)
学内学外とも共用
MiniFlex600_Cu
簡易型粉末X線回折装置
物質・材料研究機構
リガク
学内学外とも共用
MiniFlex600_Cr
簡易型粉末回折計-Cr
物質・材料研究機構
リガク
学内学外とも共用
MiniFlex600_Cu
簡易型粉末回折計-CuN2
物質・材料研究機構
リガク
学内学外とも共用
MiniFlex600_Cu
簡易型粉末回折計-CuN1
物質・材料研究機構
リガク
学内学外とも共用
SmartLab3
高速・高感度型粉末X線回折装置
物質・材料研究機構
リガク
学内学外とも共用
SmartLab 9 kW with cryostat/furnace
温度可変型粉末X線回折装置
物質・材料研究機構
リガク
学内学外とも共用
VariMax DW AFC11 with Pilatus
2波長低温単結晶X線回折装置
物質・材料研究機構
リガク
学内学外とも共用
XtaLAB Synergy-R/DW Custom
多環境場対応型X線単結晶構造解析装置 (Single Crystal X-ray Diffractometer for Multiple Environments)
物質・材料研究機構
リガク
学内学外とも共用
SmartLab 9 kW
高輝度・高感度型粉末X線回折装置 (High-power and high-sensitivity type powder X-ray diffractometer)
物質・材料研究機構
(株)リガク (Rigaku Corporation)
学内学外とも共用
Prominence LXQ
HPLC(質量分析計付き) (HPLC with MS)
物質・材料研究機構
島津製作所 サーモフィッシャーサイエンティフィック (Shimadzu Thermo Fisher Scientific)
学内学外とも共用
Nexera 40DAWN 8GPC-101GPC-101
ゲル浸透クロマトグラフィー装置群 (Gel permeation chromatography (GPC))
物質・材料研究機構
島津製作所 ワイアットテクノロジー 昭和電工 (Shimadzu Wyatt TechnologyShowa Showa Denko)
学内学外とも共用
ONH836 CS844
酸素窒素水素分析装置、炭素硫黄分析装置 (Oxygen/Nitrogen/Hydrogen Analyzer Carbon/Sulfer Analyzer)
物質・材料研究機構
LECOジャパン合同会社 (LECO JAPAN CORPORATION)
学内学外とも共用
720 ICP-OES
誘導結合プラズマ発光分析装置(マルチ型) (Inductively Coupled Plasma Optical Emission Spectrometer (ICP-OES))
物質・材料研究機構
アジレント・テクノロジー(株) (Agilent Technologies Japan, Ltd.)
学内学外とも共用
Biacore X100
表面プラズモン共鳴装置 (Surface plasmon resonance (SPR) instrument)
物質・材料研究機構
サイティバ (Cytiva)
学内学外とも共用
ELSZ-1000Z
ゼータ電位計 (Zeta potential analyzer)
物質・材料研究機構
大塚電子 (Otsuka Electronics)
学内学外とも共用
DLS-8000HAL
動的光散乱光度計 (Dynamic light scattering (DLS) spectrophotometer)
物質・材料研究機構
大塚電子 (Otsuka Electronics)
学内学外とも共用
SALD-2100
粒度分布測定装置 (Particle size analyzer)
物質・材料研究機構
島津製作所 (Shimadzu)
学内学外とも共用
VCA Optima-XE
接触角計 (Contact angle meter)
物質・材料研究機構
AST Products (AST Products)
学内学外とも共用
TA-XT2i
テクスチャーアナライザー (Texture analyzer)
物質・材料研究機構
英弘精機 (EKO Instruments)
学内学外とも共用
F54-XY-200-UV
顕微分光膜厚計 [F54-XY-200-UV]
物質・材料研究機構
フィルメトリクス株式会社 (FILMETRICS)
学内学外とも共用
Dektak XT-A
触針式プロファイラー [Dektak XT-A]
物質・材料研究機構
ブルカージャパン (Bruker)
学内学外とも共用
FLX-2000-A
薄膜応力測定装置 [FLX-2000-A]
物質・材料研究機構
東朋テクノロジー (Toho Technology)
学内学外とも共用
Dektak 6M
触針式プロファイラー [Dektak 6M]
物質・材料研究機構
ブルカージャパン
学内学外とも共用
EnSight
プレートリーダー (Plate reader)
物質・材料研究機構
パーキンエルマー (PerkinElmer)
学内学外とも共用
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自然科学研究機構分子科学研究所 機器センター
〒444-8585 愛知県岡崎市明大寺町字西郷中38番地
電話番号:0564-55-7490
MAIL : eqnet-office@ims.ac.jp
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