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名称 機関 メーカー 共用範囲
FV1000
共焦点レーザー走査型顕微鏡 (Confocal Laser Scanning Microscope)
京都大学
オリンパス(株) (Olympus Corporation)
学内学外とも共用
OLS4000-SAT
3D測定レーザー顕微鏡 (3D Measuring Laser Microscope)
京都大学
オリンパス(株) (Olympus Corporation)
学内学外とも共用
全反射励起蛍光イメージングシステム (Total Internal Reflection Fluorescence Microscope)
京都大学
オリンパス(株) (Olympus Corporation)
学内学外とも共用
IX81-ZDC2
長時間撮影蛍光イメージングシステム (Time-Lapse Fluorescence Microscope)
京都大学
オリンパス(株) (Olympus Corporation)
学内学外とも共用
MF-UB2010C
ユニバーサル測定顕微鏡 (Optical Microscope)
京都大学
(株)ミツトヨ (Mitutoyo Corporation)
学内学外とも共用
MF-UB2010C
ユニバーサル測定顕微鏡 (Optical Microscope)
京都大学
(株)ミツトヨ (Mitutoyo Corporation)
学内学外とも共用
MF-UB2010C
ユニバーサル測定顕微鏡 (Optical Microscope)
京都大学
(株)ミツトヨ (Mitutoyo Corporation)
学内学外とも共用
VHX1000
デジタルマイクロスコープ (Digital Microscope)
京都大学
(株)キーエンス (KEYENCE CORPORATION)
学内学外とも共用
VHX1000
デジタルマイクロスコープ (Digital Microscope)
京都大学
(株)キーエンス (KEYENCE CORPORATION)
学内学外とも共用
VHX7000
デジタルマイクロスコープ (Digital Microscope)
京都大学
(株)キーエンス (KEYENCE CORPORATION)
学内学外とも共用
SU8000
超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡 (Ultra-High Resolution Filed Emission SEM)
京都大学
(株)日立ハイテクノロジーズ (Hitachi High-Technologies Corporation)
学内学外とも共用
SU6600
分析走査電子顕微鏡 (Analytical Variable-Pressure Field Emission SEM)
京都大学
(株)日立ハイテクノロジーズ (Hitachi High-Technologies Corporation)
学内学外とも共用
TM3000
卓上顕微鏡(SEM) (Tabletop SEM)
京都大学
(株)日立ハイテクノロジーズ (Hitachi High-Technologies Corporation)
学内学外とも共用
JEM-2100F(G5)
極低温透過電子顕微鏡 (Ultralow-temperature high-resolution transmission electron microscope)
京都大学
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
JEM-2200FS
球面収差補正透過電子顕微鏡 (Spherical-aberration-corected transmission electron microscope)
京都大学
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
JEM-ARM200F
モノクロメータ搭載低加速原子分解能分析電子顕微鏡 (Monochromated atomic resolution analytical electron microscope)
京都大学
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
NanoLiveVision NLV-KS
高速液中原子間力顕微鏡 (Liquid-Enviroment High Speed AFM)
京都大学
(株)生体分子計測研究所 (Research Institute of Biomolecule Metrology Co., Ltd.)
学内学外とも共用
NanoWizard III
走査型プローブ顕微鏡システム (Bioscience Atomic Force Microscope)
京都大学
JPKインスツルメンツ社 (JPK Instruments AG)
学内学外とも共用
NanoTracker
光ピンセットシステム (Optical Tweezers & 3D Trapping System)
京都大学
PKインスツルメンツ社 (JPK Instruments AG)
学内学外とも共用
IB-09060CIS
クライオイオンスライサ―
京都大学
日本電子
学内学外とも共用
JIB-4700F
デュアルビーム走査電子顕微鏡
京都大学
日本電子
学内学外とも共用
NVision40PI
集束イオンビーム走査電子顕微鏡 (Cross-Beam with Focused Ion Beam and FE-SEM )
京都大学
エスアイアイ・ナノテクノロジー(株) (SII NanoTechnology Inc.)
学内学外とも共用
ULTRA CUT UCT
ミクロトーム (Microtome apparatus)
京都大学
ライカ (Leica)
学内学外とも共用
FE-5000
分光エリプソメーター (Spectral Ellipsometer)
京都大学
大塚電子(株) (Otsuka Electronics Co., Ltd.)
学内学外とも共用
Agilent7700s
ICP質量分析装置 (Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometer)
京都大学
アジレント・テクノロジー(株) (Agilent Technologies, Inc.)
学内学外とも共用
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自然科学研究機構分子科学研究所 機器センター
〒444-8585 愛知県岡崎市明大寺町字西郷中38番地
電話番号:0564-55-7490
MAIL : eqnet-office@ims.ac.jp
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