| 設置機関 | 九州大学 |
|---|---|
| 研究科・学部 | |
| 設備分類 | 顕微鏡 > 透過電子顕微鏡 |
| 製造元 | 日本電子 (JEOL) |
| 型番 | JEM-ARM200CF |
| 設備名称 | 広電圧超高感度原子分解能電子顕微鏡 (30-200 kV Atomic resolution analytical electron microscope) |
| 装置スペック | 照射系・結像系の収差補正、EDS/EELSによる高感度組成・状態分析、加速電圧:30, 60, 80, 120, 200kV |
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